書誌事項
- タイトル別名
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- ショウタイ コウエン コウシュウハ タイイキ ザツオン ケイソク プローブ ニ ヨル MOSFET ノ ジカン ユラギ トクセイ ヒョウカ : 1/f(テイシュウハ)カラ ネツ ザツオン(100MHz チョウ)マデ
- Fluctuation of MOSFETs from Low-Frequency Noise to Thermal Noise Using a Novel Measurement System beyond 100 MHz
- シリコン材料・デバイス
- シリコン ザイリョウ ・ デバイス
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (290), 15-19, 2012-11
東京 : 電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572358701846656
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- NII論文ID
- 110009642023
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 024149105
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles