著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
Shiyang Zhu and 中島 安理 and 大橋 拓夫,Inteface Trap Generation Induced by Charge Pumping Current under Dynamic Oxide Field Stresses,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2005-06-10,105,109,17-22,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358715231872,