著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
城戸 光一 and 佐藤 謙 and 黒田 理人 and 安藤 大輔 and 須藤 祐司 and 小池 淳一,依頼講演 Co/Si界面の酸化物層がショットキー障壁高さと接触抵抗に及ぼす影響,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2019-10,119,239,35-38,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358741041536,