著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
諏訪 昌樹 and 菊地 正 and 古谷 圭一,低エネルギー二次イオン質量分析計による研摩剤に関する銅の表面汚染研究,質量分析,05428645,東京 : 日本質量分析学会,1977-12,25,4,p371-398,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358848504448,