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鈴木 治彦 and 長谷川 覚 and 野平 博司,XPSを用いたAu/極薄SiO2界面のバリアハイトの測定,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2006-06,106,108,119-124,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358855004288,