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和田 真一 and 越田 圭治 and 久保田 洋彰,微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(5),電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2014-03,113,486,67-72,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572359034120704,