著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
住谷 司 and 亀田 能成 and 大田 友一,SIFT key追跡に基づく撮影対象空間の重複度合定量化への試み,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2008-12,108,363,81-86,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572359222529152,