著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
松崎 俊太郎 and 舟木 剛 and 引原 隆士,高耐圧SiC-JFETの交流特性測定--高電圧バイアスおよびゲート電圧印加を可能とする測定回路,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2006-10-04,106,274,19-24,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572359288680576,