著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
井上 真雄 and 高橋 貫治 and 寺本 章伸,ゲート酸化膜の電気的特性に対する有機物汚染の影響,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2001-10-16,101,350,7-10,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572359355160448,