著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
高橋 寛 and 山本 幸大 and 樋上 喜信,BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法,"電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム. 1, 情報処理 = The IEICE transactions on information and systems. Pt. 1",09151915,東京 : 電子情報通信学会情報・システムソサイエティ,2005-06,88,6,1029-1038,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572359408623488,