著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
高木 正夫 and 橋爪 正樹 and 一宮 正博,交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧,エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging,13439677,東京 : エレクトロニクス実装学会,2007-05,10,3,219-228,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572359685232384,