著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
福井 万寿夫 and 奥野 雄太郎,金属薄膜の表面凹凸と物性計測--表面ポラリトン特性を利用して,応用物理,03698009,東京 : 応用物理学会,1992-12,61,12,p1231-1237,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572360190175744,