著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
田中 信夫,ナノビーム電子線を用いた極微構造解析とイメージング(2),電子顕微鏡,04170326,東京 : 日本顕微鏡学会,1999-11,34,3,211-216,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572360259203584,