著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
Satoshi Gonda and Takuma Doi and Tomizo Kurosawa,"Real-time,interferometrically measuring atomic force microscope for direct calibration of standards",計量研究所報告,03686051,つくば : 工業技術院計量研究所,2000-01,49,1,79-85,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520573330461187584,