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高橋 康宏 and 伊藤 大輔 and 中村 誠 and 土谷 亮 and 井上 敏之 and 岸根 桂路,65-nm CMOSプロセスを用いた局部帰還構成RGC-TIA,"電気学会研究会資料. ECT = The papers of technical meeting on electronic circuits, IEE Japan",,東京 : 電気学会,2022-06,2022,23-39,51-55,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520574212778475392,