Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
水谷 瑛子 and 榎 亮,駄目なテストのありがち6パターン(第4回)テスト以前に問題 終盤で手戻り連発 テスト工程より前に原因も,日経systems,18811620,東京 : 日経BP社,2018-07,,303,76-81,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832024249728,