著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
佐藤 康夫 and 梶原 誠司,フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2013-06-21,113,104,13-18,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832055897088,