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日高 亮 and 渡邊 実 and 小林 史典,光再構成ゲートアレイの製造不良耐性,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2006-09-14,106,246,1-5,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832154704896,