著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
,展望 半導体と信頼性,信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌,09192697,東京 : 日本信頼性学会,2003-03,25,2,91-147,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832170315136,