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亀田 卓 and 福與 賢 and 山口 敦由,1ビットフラグを用いた高速RFID識別方式:耐雑音特性の評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2006-11-23,106,373,7-12,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832276201344,