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山中 俊幸 and 渡邉 昇,互いに直交する量子状態を用いた4ビームスプリッターゲートの誤り確率について,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2005-07-21,105,190,25-29,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832291854720,