著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
脇田 幸典 and 池辺 将之 and Stevanus Arnold and 尾辻 泰一 and 瀧田 佑馬 and 南出 泰亜 and 佐野 栄一,180nmCMOSプロセスを用いたテラヘルツ検出器の設計と評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2016-12,116,375,17-22,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832367695744,