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李 富強 and 温 暁青 and 宮瀬 紘平,低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2014-06-20,114,99,15-20,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832574434432,