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五味 健二 and 一瀬 謙輔 and 新津 靖,サファイア単結晶の複屈折測定と半導体レーザへの応用,材料試験技術 = Journal of Material Testing Research Association of Japan,02852470,東京 : 日本材料試験技術協会,2002-07,47,3,178-183,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832618449152,