著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
坂本 良太 and 林 晋平 and 佐伯 元司,デザインパターン検出のためのテストケース作成支援,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2006-04-21,106,16,7-12,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832689168000,