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住田 崇史 and 平野 拓一 and 岡田 健一,Si CMOS基板上ミリ波帯スパイラルインダクタとキャパシタの電磁界解析および実測評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2012-10,112,251,47-52,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832866033408,