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石井 明 and 尾崎 保史 and 平田 英之,赤外線サーモグラフィによる表面近傍の微小空洞欠陥の検出,材料試験技術 = Journal of Material Testing Research Association of Japan,02852470,東京 : 日本材料試験技術協会,2005-10,50,4,163-169,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853832896548352,