著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
武山 真弓 and 中台 保夫 and 神原 正三,ZrB2薄膜のキャラクタリゼーションとCu/SiO2間のバリヤ特性,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2007-11,107,325,35-38,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853833261095552,