著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
塩田 忠弘 and 岸 武人 and 大西 修平,マイクロCTの電子部品への応用,非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection,03675866,[東京] : 日本非破壊検査協会,2005-05,54,5,238-242,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853833606035072,