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中川 将紀 and 小林 隆史 and 永瀬 隆,蛍光測定によるポリフルオレン薄膜の光劣化過程の観察--残留酸素の影響,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2011-03-08,110,463,17-20,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853833754919424,