著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI) 大堀 真敬 and 佐藤 寿芳,走査電子顕微鏡(SEM)による表面形状測定の研究--法線検出法による,日本機械学会論文集. C編,03875024,東京 : 日本機械学会 ; 1979-2010,1986-11,52,483,p2974-2981,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853833774100864,