著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
福與 賢 and 山口 敦由 and 亀田 卓,1ビットフラグを用いた高速RFID識別方式:EPCglobal Class-1 Generation-2との比較,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2006-10-27,106,321,7-12,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853833850658304,