著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
和田 真一 and 越田 圭治 and 永井 祥子,微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 時系列変動データの解析(27),電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2013-01-25,112,415,9-14,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853834148547072,