Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
志岐 卓信 and 高島 康裕 and 中村 祐一,Delay analysis of sub-path on fabricated chips by several path-delay tests,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2010-03,109,462,79-83,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853834222853120,