著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
百瀬 駿 and 井田 次郎 and 山田 拓弥 and 森 貴之 and 伊東 健治 and 石橋 孝一郎 and 新井 康夫,招待講演 急峻なSSを持つPN-Body Tied SOI-FETを用いたMOS Diode接続での特性および微小電圧整流実験,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2018-11,118,291,59-64,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853834411027840,