Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
田中 元裕 and 盛谷 浩右 and 廣田 智一,Enhanced surface sensitivity in secondary ion mass spectrometric analysis of organic thin films using size-selected Ar gas-cluster ion projectiles,"兵庫県立大学工学研究科イオン工学研究室論文集 = Annual report of Ion Beam Engineering Laboratory, University of Hyogo",,姫路 : 兵庫県立大学工学研究科イオン工学研究室,2009,2009年度,,67-72,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853834772694912,