著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
柴田 直哉,微分位相コントラストSTEMによる材料・デバイス局所電磁場解析,"電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan",,東京 : 電気学会,2021-03-03,2021,24-33,1-4,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853834917264896,