著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
香取 雅之 and 後藤 宗弘,半導体記憶連結故障の検査アルゴリズム,岐阜大学工学部研究報告,03760332,岐阜 : 岐阜大学工学部,1981,,31,p97-105,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853835086773632,