著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
高橋 寛 and 山本 貴之 and 高松 雄三,Test generation for multiple fault diagnosis in one-dimensional iterative logic arrays,愛媛大学工学部紀要,02856107,松山 : 愛媛大学工学部,1993-02,12,4,p501-512,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853835134182528,