著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
河津 璋 and 吉村 雅満 and 重川 秀実,走査型プローブ顕微鏡による有機伝導体薄膜の表面観察,応用物理,03698009,東京 : 応用物理学会,1992-10,61,10,p1048-1052,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853835171288704,