Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
Robert Keeler,インサーキット試験機能を取り入れ需要が復活するファンクション・テスタ,日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation,03851680,東京 : 日経BP,1986-03,,391,p267-275,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853835212479232,