著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
下山 展弘,半導体関連信頼性研究の動向--第37回国際信頼性物理シンポジウム参加報告,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,1999-09-17,99,307,17-22,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853835214741632,