著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
佐藤 貢 and 中川 美音,"情報理論の電子光学系への応用--SEMの分解能,焦点深度の新しい評価法",電子顕微鏡,04170326,東京 : 日本顕微鏡学会,1994,29,2,p124-129,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520853835225871616,