著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
加藤 一郎,"シリコン,ゲルマニウム単結晶の破砕層 X線2回反射積分強度測定による検討",東芝レビュー = Toshiba review,03720462,東京 : 東芝技術企画部,1964-12,19,12,????,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520854805197689088,