著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
服部 秀男 and 山崎 秀樹,分析技術 TOF-SIMSと低角斜め切削法を用いたサブミクロン高分子薄膜の組成分析,日東電工技報,13482475,茨木 : 日東電工技術企画部,2007,45,1,68-71,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520854805926223872,