Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
加藤 丈晴,FIB-SEM技術を用いたTEM試料作製と3次元再構成,顕微鏡 = Microscopy,13490958,東京 : 日本顕微鏡学会,2023,58,3,95-99,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520862036470304640,