著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
千田 有一,深層学習に基づく生産設備の異常診断技術,KYB technical review = KYB技報,18807410,東京 : KYB,2024-04,,68,3-6,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520863241210288640,