著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
谷口 正純,JTAGバウンダリスキャンテストの基礎技術,エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging,,[東京] : エレクトロニクス実装学会,2024-07,27,4,283-287,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520863705671038464,