著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
馮 斌 and 柴田 直哉 and 幾原 雄一,原子分解能走査透過型電子顕微鏡法を用いたセラミックス粒界の原子構造解析,溶射 : 日本溶射学会誌,09166076,東大阪 : 日本溶射学会,2024-07,61,3,136-140,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520864280562665984,