著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
宇田 応之 and 石崎 温史,ポータブル型複合X線分析装置による遺跡・文化財の分析--これで歴史はかわるか?(第17回)芸術性豊かな色絵陶器「仁清」,金属,03686337,東京 : アグネ技術センター,2007-08,77,8,930-936,https://cir.nii.ac.jp/crid/1521136279769173760,